Авторы:
Рыжиков Александр Сергеевич
магистрант
Филиал ФГБОУ ВО «НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ «МЭИ»
Смоленск
Могилевец Роман Александрович
магистрант
Филиал ФГБОУ ВО "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "МЭИ" в г. Смоленске
Смоленск
Наименование материала: научная статья
Тема: Технический анализ схемы ключа на IGBT
Дата публикации: 07.06.2023